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TOFD &相控阵实验室自动扫查调试装置 (YHZDSC-N1.0)
1、功能介绍
目前常用的TOFD试块扫查方法由于不能实现探头的自主耦合，为了完成扫查，必须对每个试块的扫查平面进行扩展。因常规的支撑平板易产生变形及加工精度不够，扫查过程中，磁性滚轮和探头行走到试块表面与扩展平板的接缝位置时，均会因阻碍而产生跳动，严重情况下会导致数据丢失或 图谱畸变，影响扫查结果的准确性。尤其是采用多通道方法扫查厚度大于50mm的试块时，对结果的影响更加明显。此外，编码器滚轮直接在带油的试块上滚动常常会因打滑而造成数据采集不佳。由于手动扫查，人为影响因素多，不仅劳动强度大，且扫查路径易偏移，导致图谱弯曲或偏斜，影响数据判读和测量。TOFD及相控阵试块自动扫查装置采用了独有的序贯扫查技术，在扫查开始时，第1通道探头耦合在试块表面扫查起始位置。扫查开始后，当第2、3通道依次进入扫查时，最下端的拨片碰到试块边缘，拨片通过连杆机构逐渐放下探头，耦合到试块表面。探头下降过程是逐步、连续的，耦合过程平稳，不存在震动和冲击。由于采用了步进电机驱动和微机控制，整个扫查 过程非常平稳，智能化程度高，采集到的TOFD图谱成像质量高。完全摒弃了常规扫查方法中的各种缺点和不便。
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